分析天平

 

分析天平是指精度达到万分之一的天平，丹佛分析天平有PI、TP、S、SI四个系列，都采用双极一体传感器，该传感器技术使得Denver分析天平具有更高的精度，更快的响应时间，更稳定的示值，更坚固耐用，温度漂移极小，同时大幅度降低零部件的故障率。

PI系列分析天平

PI系列分析天平的三个型号为PI-114、PI-214和PI-314，这三款分析天平都采用了特制纯铝防风罩背板、全面提升天平的防静电能力。

型号	外观展示	可读性	量程	称盘尺寸	重复性	线性
PI-114		0.1mg	110g	ø80mm	≤±0.1mg	≤±0.1mg
PI-214		0.1mg	210g	ø80mm	≤±0.1mg	≤±0.1mg
PI-314		0.1mg	310g	ø80mm	≤±0.2mg	≤±0.2mg

特点：①由时间和温度触发的全自动校准和调整功能；②超级一体传感器，超高速微处理器；③与Windows之间数据传送、数据统计功能。

TP系列分析天平

TP系列Denver分析天平除了采用超级一体传感器和四重数字滤波技术外，还采用了高对比度液晶显示屏，更方便用户进行数据的察看。

型号	外观展示	可读性	量程	称盘尺寸	重复性	线性
TP-114		0.0001g	110g	ø90mm	≤±0.0001g	≤±0.0002g
TP-214		0.0001g	210g	ø90mm	≤±0.0001g	≤±0.0002g

特点：①全程温度补偿+全自动故障诊断；②触感反馈式按键，确保操作准确有效。

S系列分析天平

S114和S234 Denver分析天平为外校型，即用标准砝码进行校准。操作时，可选择简单的英文菜单设置或代码设置，简单便捷。

型号	外观展示	可读性	量程	称盘尺寸	重复性	线性	响应时间
S-114		0.1mg	110g	ø90mm	≤±0.1mg	≤±0.2mg	2s
S-234		0.1mg	230g	ø90mm	≤±0.1mg	≤±0.2mg	2s

特点：①可进行多点线性校准；②气泡水平仪前置，方便调节水平。

SI系列分析天平

SI-114和SI-234型Denver天平为内校型天平，即只需要按一下校准建，就可完成繁琐的校准工作，其采用的磁缸具有卓越的磁感应强度稳定性，当温度从0℃变化到40℃时，气隙中心磁感应强度的变化小于十万分之一，极大地提升了天平抗温度漂移的能力。

型号	外观展示	可读性	量程	称盘尺寸	重复性	线性	响应时间
SI-114		0.1mg	110g	ø90mm	≤±0.1mg	≤±0.2mg	2s
SI-234		0.1mg	230g	ø90mm	≤±0.1mg	≤±0.2mg	2s

特点：①采用最新的高速微处理器及复合线路板技术；②待机时可显示时间，可设置时间、日期及操作者ID。

丹佛天平除向用户提供除外部砝码校准(外校)，内部电机驱动砝码校准(内校)之外，还提供多点线性校准方案。相比单点校准，多点线性校准可有效减小天平的线性误差，从而保证称量结果的高可靠性。此外，丹佛分析天平的全程自动温度补偿技术，最大程度地减小环境对称量的影响。