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分析天平

 

分析天平是指精度达到万分之一的天平,丹佛分析天平有PI、TP、S、SI四个系列,都采用双极一体传感器,该传感器技术使得Denver分析天平具有更高的精度,更快的响应时间,更稳定的示值,更坚固耐用,温度漂移极小,同时大幅度降低零部件的故障率。

分析天平

PI系列分析天平

PI系列分析天平的三个型号为PI-114、PI-214和PI-314,这三款分析天平都采用了特制纯铝防风罩背板、全面提升天平的防静电能力。

型号 外观展示 可读性 量程 称盘尺寸 重复性 线性
PI-114 分析天平 0.1mg 110g ø80mm ≤±0.1mg ≤±0.1mg
PI-214 0.1mg 210g ø80mm ≤±0.1mg ≤±0.1mg
PI-314 0.1mg 310g ø80mm ≤±0.2mg ≤±0.2mg

特点:①由时间和温度触发的全自动校准和调整功能;②超级一体传感器,超高速微处理器;③与Windows之间数据传送、数据统计功能。

TP系列分析天平

TP系列Denver分析天平除了采用超级一体传感器和四重数字滤波技术外,还采用了高对比度液晶显示屏,更方便用户进行数据的察看。

型号 外观展示 可读性 量程 称盘尺寸 重复性 线性
TP-114 分析天平 0.0001g 110g ø90mm ≤±0.0001g ≤±0.0002g
TP-214 0.0001g 210g ø90mm ≤±0.0001g ≤±0.0002g

特点:①全程温度补偿+全自动故障诊断;②触感反馈式按键,确保操作准确有效。

S系列分析天平

S114和S234 Denver分析天平为外校型,即用标准砝码进行校准。操作时,可选择简单的英文菜单设置或代码设置,简单便捷。

型号 外观展示 可读性 量程 称盘尺寸 重复性 线性 响应时间
S-114 分析天平 0.1mg 110g ø90mm ≤±0.1mg ≤±0.2mg 2s
S-234 0.1mg 230g ø90mm ≤±0.1mg ≤±0.2mg 2s

特点:①可进行多点线性校准;②气泡水平仪前置,方便调节水平。

SI系列分析天平

SI-114和SI-234型Denver天平为内校型天平,即只需要按一下校准建,就可完成繁琐的校准工作,其采用的磁缸具有卓越的磁感应强度稳定性,当温度从0℃变化到40℃时,气隙中心磁感应强度的变化小于十万分之一,极大地提升了天平抗温度漂移的能力。

型号 外观展示 可读性 量程 称盘尺寸 重复性 线性 响应时间
SI-114 分析天平 0.1mg 110g ø90mm ≤±0.1mg ≤±0.2mg 2s
SI-234 0.1mg 230g ø90mm ≤±0.1mg ≤±0.2mg 2s

特点:①采用最新的高速微处理器及复合线路板技术;②待机时可显示时间,可设置时间、日期及操作者ID。

丹佛天平除向用户提供除外部砝码校准(外校),内部电机驱动砝码校准(内校)之外,还提供多点线性校准方案。相比单点校准,多点线性校准可有效减小天平的线性误差,从而保证称量结果的高可靠性。此外,丹佛分析天平的全程自动温度补偿技术,最大程度地减小环境对称量的影响。

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